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SRM640標準硅粉的來源和認證
美國NIST標準參考物質(zhì)SRM640硅粉的簡介

SRM640標準硅粉（美國NIST）

簡要描述：SRM640f標準硅粉由超高純度、本征硅晶錠制成，這些晶錠經(jīng)粉碎和噴射研磨至平均粒徑為 4.1 微米。然后將所得粉末在吸氣氬氣下在 1000 °C 下退火 2 小時 [1] 并在氬氣下裝瓶。

  • 英文名稱：Silicon Powder（Line Position and Line Shape Standard for Powder Diffraction）
  • 產(chǎn)品型號：SRM640f
  • CAS：7440-21-3
  • 產(chǎn)品規(guī)格：7.5g
  • 純度：0.5431144nm ± 0.000008nm
  • 品牌：美國NIST
  • 訪  問  量：1273

產(chǎn)品介紹

SRM640標準硅粉（美國NIST）旨在用作校準通過粉末衍射測定的衍射線位置和線形的標準品。 SRM640標準硅粉由超高純度、本征硅晶錠制成，這些晶錠經(jīng)粉碎和噴射研磨至平均粒徑為 4.1 微米。然后將所得粉末在吸氣氬氣下在 1000 °C 下退火 2 小時 [1] 并在氬氣下裝瓶。X 射線粉末衍射數(shù)據(jù)的分析表明，SRM640f 超高純硅粉材料在衍射特性方面是均勻的。


認證值：22.5 °C 溫度的認證晶格參數(shù)為 0.5431144nm ± 0.000008nm 。該值定義的區(qū)間及其擴展不確定度 (k = 2) 主要由從技術(shù)理解估計的 B 類不確定度決定測量數(shù)據(jù)及其分布。 NIST 認證值是 NIST 對其準確性有最高置信度的值，因為所有已知或可疑的偏差來源都已被調(diào)查或考慮在內(nèi)。認證值和不確定度是根據(jù) ISO/JCGM 指南 [2] 中描述的方法計算的。被測量是晶格參數(shù)。計量溯源性是長度的 SI 單位，以納米表示。


信息值：對認證數(shù)據(jù)的分析包括對洛倫茲輪廓的半峰全寬 (FWHM) 進行細化，以解釋樣本引起的展寬。 FWHM 的角度依賴性隨 1/cos θ 變化，被解釋為尺寸引起的展寬。得到的值是一致的平均體積加權(quán)域大小約為 0.4 μm。變化為 tan θ 的術(shù)語，解釋為微應(yīng)變，細化為零。計算的峰位置的信息值在表 1 中給出。由激光散射確定的典型粒徑分布在圖 1 中給出。信息值被認為是 SRM 用戶感興趣的值，但沒有足夠的信息來評估與該值相關(guān)的不確定性。信息值不能用于建立計量溯源性。


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SRM640標準硅粉（美國NIST）在氬氣下裝瓶以防潮。不使用時，將未使用的粉末部分密封保存在原瓶中，或以類似或更好的防潮保護的方式儲存。


篇幅有限，如需了解更多SRM640標準硅粉（美國NIST）產(chǎn)品信息，請聯(lián)系我們。